• <table id="jsi18"></table>
        <track id="jsi18"><ruby id="jsi18"></ruby></track>
        <table id="jsi18"></table>
          <p id="jsi18"></p>
              <table id="jsi18"><option id="jsi18"></option></table>
            1. 產品搜索 Search
              產品目錄 Product catalog
              技術文章首頁 > 技術文章 > 覆層測厚儀跟涂層測厚儀相比較有什么優勢

              覆層測厚儀跟涂層測厚儀相比較有什么優勢

              點擊次數:945 更新時間:2021-08-09

              覆層測厚儀跟涂層測厚儀相比較有什么優勢

               涂層測厚儀是新開發的產品。與以往的涂層測厚儀相比,主要有以下優點:
              ?? 1、測量速度快:測量速度比其他TT系列快6倍;
              ?? 2、精度高:產品經過簡單校準,精度可達1-2%。是市場上可以達到*的產品,精度遠高于時代等國內同類產品
              ??3、穩定性:測量值的穩定性和使用穩定性優于進口產品;
              ?? 4、功能、數據、操作、顯示均為中文;
              ??由材料表面保護和裝飾,如涂層、電鍍、覆層、粘貼、化學成膜等形成的覆蓋層,在相關國家和國際標準中稱為涂層。涂層測厚已成為加工業和表面工程質量檢驗的重要組成部分,是產品達到優良質量標準的手段。為使產品國際化,我國出口商品及涉外項目對涂層厚度有明確要求。
              ??涂層厚度的測量方法主要有:楔形切割法、截光法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線背散射法、電容法、磁測量法和渦流測量法方法等。這些方法中的前五種是破壞性測試。測量方法繁瑣、速度慢,多適用于抽樣檢驗。
              ?? X射線和β射線法是非接觸、無損測量,但設備復雜、價格昂貴,測量范圍小。由于存在放射源,用戶必須遵守輻射防護規定。 X射線法可以測量極薄的鍍層、雙層鍍層和合金鍍層。 β射線法適用于原子序數大于3的涂層和基材的測量。電容法僅用于測量細導體絕緣涂層的厚度。
              ??


              滬公網安備 31011402002799號

              亚洲精品国产品国语在线观看|隔壁女邻居国产按摩序列|久久久久久精品免费免费自慰|夜夜爽高清视频
            2. <table id="jsi18"></table>
                  <track id="jsi18"><ruby id="jsi18"></ruby></track>
                  <table id="jsi18"></table>
                    <p id="jsi18"></p>
                        <table id="jsi18"><option id="jsi18"></option></table>